特許のデュアルコア表面形態解析技術–Leica DCM8

いちこうそくひはかいせい3Dマイクロナノ構造測定。

一共焦点顕微鏡技術を用いた形態分析,干渉テクノロジーにより、データの高精度で高再現性と高速性を確保。